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日本SSD便攜式DP靜電測(cè)試儀可通過對(duì)金屬板施加電壓檢測(cè)電壓衰減時(shí)間,還可做為CPM用以測(cè)試放電性能衰減測(cè)量模式(兩種) ±1000V→100V,±1000V的→±50V,靜電測(cè)試儀。DP型為手提便攜式,體積小,便于在工作現(xiàn)場(chǎng)的靜電消除器檢測(cè),配有扶輪驅(qū)動(dòng)裝置,可利用搖頭功能一邊改變對(duì)金屬板的角度一邊進(jìn)行測(cè)量,便于檢測(cè)安裝在其他裝置上的靜電消除器。操作簡(jiǎn)單,只需操作按鈕即可進(jìn)行測(cè)量.
詳情介紹:
日本SSD便攜式DP靜電壓衰減測(cè)試儀體積小,便于在工作現(xiàn)場(chǎng)的靜電消除器檢測(cè),配有扶輪驅(qū)動(dòng)裝置,可利用搖頭功能一邊改變對(duì)金屬板的角度一邊進(jìn)行測(cè)量,便于檢測(cè)安裝在其他裝置上的靜電消除器。操作簡(jiǎn)單,只需操作按鈕即可準(zhǔn)確的進(jìn)行測(cè)量,液晶顯示屏在工作現(xiàn)場(chǎng)十分便利。
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